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二次偏振调制测距系统中调制频率与测距精度的关系

肖洋 于晋龙 王菊 王文睿 王子雄 谢田元 于洋 薛纪强

二次偏振调制测距系统中调制频率与测距精度的关系

肖洋, 于晋龙, 王菊, 王文睿, 王子雄, 谢田元, 于洋, 薛纪强
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出版历程
  • 收稿日期:  2015-12-17
  • 修回日期:  2016-01-24
  • 刊出日期:  2016-05-20

二次偏振调制测距系统中调制频率与测距精度的关系

  • 1. 天津大学电子信息工程学院, 天津 300072
  • 通信作者: 王菊, wangju@tju.edu.cn
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:61427817,61405142)和高等学校博士学科点专项科研基金(批准号:20120032130010)资助的课题.

摘要: 本文在基于二次偏振调制激光测距系统的基础上, 对调制频率与激光测距系统精度的关系做了深入的理论推导和实验验证. 最终得出结论: 相位法激光测距系统的测量精度会随着调制频率的增大而提高, 且精度的提高程度正比于调制频率的不确定度f与测程范围内半波长数N值的比值. 并通过选取合适的调制频率来提高系统的测距精度, 提高后的测距精度可达10-7.

English Abstract

参考文献 (15)

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