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用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱

杨家敏 丁耀南 孙可煦 成金秀 江少恩 郑志坚 张文海

用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱

杨家敏, 丁耀南, 孙可煦, 成金秀, 江少恩, 郑志坚, 张文海
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出版历程
  • 收稿日期:  1999-06-03
  • 修回日期:  1999-09-17
  • 刊出日期:  2000-04-20

用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱

  • 1. 中国工程物理研究院西南核物理与化学研究所,绵阳市919信息216分箱绵阳621900
    基金项目: 

    国家高技术研究发展计划!(批准号 :86 3 416 3 3 1)资助的课题&&

摘要: 在星光激光装置上利用波长为035μm的激光辐照金箔靶,在金箔靶背侧用透射光栅配X射线chargecoupleddevice系统测量了其发射的软X射线能谱,并与用亚千能谱仪测量的结果进行了比较,获得了比较一致的结果.测量结果表明,017μm厚度的金箔靶背侧的X射线能谱偏离平衡辐射谱,具有明显的金等离子体N带和O带辐射结构.

English Abstract

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