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用高压显微光谱系统测量流体静压力对非晶态As2S3光学吸收边的影响

查长生 郭常新

用高压显微光谱系统测量流体静压力对非晶态As2S3光学吸收边的影响

查长生, 郭常新
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出版历程
  • 收稿日期:  1982-01-08
  • 刊出日期:  2005-07-27

用高压显微光谱系统测量流体静压力对非晶态As2S3光学吸收边的影响

  • 1. 中国科学技术大学

摘要: 用金刚石对顶砧高压显微光谱系统在0—66kbar的流体静压力范围内测量了a-As2S3的光学吸收达随压力的移动特性。发现a-As2S3的光学吸收边随压力的增加而迅速红移。在计算机上用最小二乘法对实验点进行了拟合,结果得出吸收边和压力之间的关系为:Eg(P)=Eg(0)-1.31×10-3P-3.91×10-4P2+4.04×10-6P3值得注意的是|dEg/dP|和压力之间的关系经历了一个先是增大,然后再减小以至于趋于饱和的过程。这和Weinstein等人先前的实验结果是有所不同的。

English Abstract

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