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液晶相变的微结构研究

尹传元 孙政民 沈德勋

液晶相变的微结构研究

尹传元, 孙政民, 沈德勋
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  • 用正电子湮没和差示扫描量热(DSC)变温测量液晶(EBBA)样品的正电子湮没寿命谱及DSC曲线,结果表明正电子湮没的短寿命(τs)基本不变,而长寿命(τ1)和强度(I1)明显地有两次跳变,其跳变的温度范围与DSC所测定的相转变温度范围基本一致,在加热和冷却过程中样品在晶体相←→向列相之间的相互转变的相转变温度范围显著不同。用正电子湮没的ORE模型讨论了由于液晶相转变所引起的微结构变化,从而提出正电子是研究液晶(EBBA)相变的探针。
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出版历程
  • 收稿日期:  1990-06-04
  • 刊出日期:  2005-07-01

液晶相变的微结构研究

  • 1. (1)南京大学固体微结构物理实验室; (2)南京大学物理系,南京,210008

摘要: 用正电子湮没和差示扫描量热(DSC)变温测量液晶(EBBA)样品的正电子湮没寿命谱及DSC曲线,结果表明正电子湮没的短寿命(τs)基本不变,而长寿命(τ1)和强度(I1)明显地有两次跳变,其跳变的温度范围与DSC所测定的相转变温度范围基本一致,在加热和冷却过程中样品在晶体相←→向列相之间的相互转变的相转变温度范围显著不同。用正电子湮没的ORE模型讨论了由于液晶相转变所引起的微结构变化,从而提出正电子是研究液晶(EBBA)相变的探针。

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