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用X射线激光M-Z干涉仪诊断点聚焦CH等离子体电子密度

张国平 郑无敌 王 琛 孙今人 方智恒 顾 援 傅思祖

用X射线激光M-Z干涉仪诊断点聚焦CH等离子体电子密度

张国平, 郑无敌, 王 琛, 孙今人, 方智恒, 顾 援, 傅思祖
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出版历程
  • 收稿日期:  2006-08-08
  • 修回日期:  2006-10-13
  • 刊出日期:  2007-07-20

用X射线激光M-Z干涉仪诊断点聚焦CH等离子体电子密度

  • 1. (1)北京应用物理与计算数学研究所,北京 100088; (2)北京应用物理与计算数学研究所,北京 100088;中国工程物理研究院研究生部,北京 100088; (3)上海激光等离子体研究所,上海 201800
    基金项目: 

    国家高技术研究发展计划(863)(803-804-1-10-1)资助的课题.

摘要: 在神光Ⅱ装置上,用软X射线激光Mach-Zehnder干涉仪诊断了点聚焦CH等离子体电子密度Ne分布,介绍了实验结果. 通过Abel变换进行了密度反演, 给出了Ne的2D分布,测得的最高Ne为3.2×1021cm-3. 通过同1.5维JB19程序以及二维XRL2D程序的模拟结果的比较,发现高密度区,限流因子取0.05的理论结果同实验相符,但是低密度区实验得到的Ne分布下降得更快,而且理论模拟的Ne二维分布同实验结果在细节上有比较大的差别. 粗略的误差分析显示,干涉仪面型误差是实验误差的主要来源.

English Abstract

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