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光束取样光栅强激光近场调制及诱导损伤研究

温圣林 姚 欣 高福华 李剑峰 张怡霄 郭永康

光束取样光栅强激光近场调制及诱导损伤研究

温圣林, 姚 欣, 高福华, 李剑峰, 张怡霄, 郭永康
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出版历程
  • 收稿日期:  2007-11-16
  • 修回日期:  2008-02-25
  • 刊出日期:  2008-08-20

光束取样光栅强激光近场调制及诱导损伤研究

  • 1. (1)成都精密光学工程研究中心,成都 610041; (2)四川大学物理科学与技术学院,成都 610064
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:10376019)资助的课题.

摘要: 光束取样光栅(BSG)是一种重要的用于光束取样诊断的衍射光学元件.在惯性约束聚变(ICF)终端光学系统中所使用的BSG,强激光产生的近场调制可能导致其自身的激光诱导损伤从而造成元件不能继续正常工作,为了对其在强激光条件下的正常运行提供分析的依据,采用傅里叶模式理论对BSG内部的近场调制特性进行了模拟计算.计算结果表明,BSG基片内部调制度较小,但仍然存在光强分布不均的情况,增加了这些位置产生激光诱导损伤的风险.另外,通过对BSG制作误差分析得出了其近场调制随各种制作误差的变化关系,结果表明BSG刻槽深度误

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