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一个单滑移取向铜单晶体疲劳位错结构的热稳定性研究

郭巍巍 任焕 齐成军 王小蒙 李小武

一个单滑移取向铜单晶体疲劳位错结构的热稳定性研究

郭巍巍, 任焕, 齐成军, 王小蒙, 李小武
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  • 利用扫描电镜电子通道衬度(SEM-ECC)技术观察研究了[4 18 41]单滑移取向铜单晶体在不同塑性应变幅下的疲劳饱和位错结构及其在不同温度等时退火条件下的热稳定性. 结果表明, 在退火温度为300℃时, 疲劳位错结构(如脉络结构、驻留滑移带PSB楼梯结构、PSB胞结构和迷宫结构等)均发生了明显回复. 当退火温度高于500℃, 上述这些疲劳位错结构基本消失, 均发生了明显的再结晶现象, 并大都伴随有退火孪晶的形成. 分析认为, 再结晶的发生和退火孪晶的出现不仅与退火温度和外加塑性应变幅有关, 还与累积循环塑性应变量有着密切的关系.
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号: 51071041)和中央高校基本科研业务费(批准号: N110105001)资助的课题.
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出版历程
  • 收稿日期:  2011-11-19
  • 修回日期:  2012-01-06
  • 刊出日期:  2012-08-05

一个单滑移取向铜单晶体疲劳位错结构的热稳定性研究

  • 1. 东北大学理学院材料物理与化学研究所, 沈阳 110004;
  • 2. 东北大学材料各向异性与织构教育部重点实验室, 沈阳 110004
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号: 51071041)和中央高校基本科研业务费(批准号: N110105001)资助的课题.

摘要: 利用扫描电镜电子通道衬度(SEM-ECC)技术观察研究了[4 18 41]单滑移取向铜单晶体在不同塑性应变幅下的疲劳饱和位错结构及其在不同温度等时退火条件下的热稳定性. 结果表明, 在退火温度为300℃时, 疲劳位错结构(如脉络结构、驻留滑移带PSB楼梯结构、PSB胞结构和迷宫结构等)均发生了明显回复. 当退火温度高于500℃, 上述这些疲劳位错结构基本消失, 均发生了明显的再结晶现象, 并大都伴随有退火孪晶的形成. 分析认为, 再结晶的发生和退火孪晶的出现不仅与退火温度和外加塑性应变幅有关, 还与累积循环塑性应变量有着密切的关系.

English Abstract

参考文献 (14)

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