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光电子衍射谱Fourier变换分析方法的垂直单电子束模型

唐景昌 唐叔贤

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光电子衍射谱Fourier变换分析方法的垂直单电子束模型

唐景昌, 唐叔贤
cstr: 32037.14.aps.33.362

NORMAL ONE BEAM MODEL FOR FOURIER TRANSFORM ANALYSIS METHOD OF PHOTOELECTRON DIFFRACTION SPECTRUM

TANG JING-CHANG, S. Y. TONG
cstr: 32037.14.aps.33.362
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  • 利用垂直单电子束(0,0,束)模型推导了光电子衍射I-V曲线的解析公式。对于系统C(2×2)Se(3d)/Ni(001)进行了数值计算,求出这个系统的光电子衍射谱及“相移”,从“相移”推算出“层距修正”值。另一方面对光电子衍射谱作Fourier变换直接求得“层距修正”。计算表明从两种途径求得的“层距修正”值十分接近,从而证明光电子衍射谱的Fourier变换可能成为表面结构分析的一种直接方法。
    Using normal one beam model, an analytical formula of normal photoelectron diffraction (NPD) I-V curves is derived. For the system C(2×2) Se (3d)/Ni(001), NPD spectrum and phase shifts have been calculated. We find the "layer spacing modification" (LSM) from phase shifts. In the other hand, the LSM has been found by Fourier transformation of NPD spectrum. These two sets of LSM are shown to be very close to each other. Thus it is demonstrated that Fourier transformation of NPD spectrum could be used as an effective me-thod for surface structure determination.
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出版历程
  • 收稿日期:  1983-01-13
  • 刊出日期:  2005-07-20

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