搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

SiOx∶H(0<x<2)薄膜光致发光的退火行为研究

马智训 廖显伯 何 杰 程文超 岳国珍 王永谦 刁宏伟 孔光临

引用本文:
Citation:

SiOx∶H(0<x<2)薄膜光致发光的退火行为研究

马智训, 廖显伯, 何 杰, 程文超, 岳国珍, 王永谦, 刁宏伟, 孔光临

ANNEALING BEHAVIORS OF PHOTOLUMINESCENCE FROM SiOx∶H FILMS

MA ZHI-XUN, LIAO XIAN-BO, HE JIE, CHENG WEN-CHAO, YUE GUO-ZHEN, WANG YONG-QIAN, DIAO HONG-WEI, KONG GUANG-LIN
PDF
导出引用
  • 采用退火后处理的方法,使SiOx∶H(0<x<2)形成纳米硅与二氧化硅的镶嵌结构.利用红外透射谱、Raman谱和光致发光谱,系统地研究了不同退火温度对薄膜微结构及室温光致发光谱的影响.发现发光谱均由两个Gauss线组成,其中主峰随着退火温度的升高而红移,而位于835nm的伴峰不变.指出退火前在720—610nm的波长范围内强的主峰可能来源于膜中的非晶硅原子团,随退火温度的升高主峰的红移是由于非晶硅原子团的长大.而伴峰可能来自硅过剩或氧欠缺引入的某种发光缺陷.1170℃退火后在850n
    The nanocrystalline silicon embedded in silicon dioxide has been successfully prepared by post heat treatment for SiOx∶H.We have found that each strong photoluminescence spectrum from a-SiOx∶H consists of two Gaussian components.One is a main broad peak which redshifts with the increase of annealing temperature and the other is a shoulder remaining at about 835 nm.In conjunction with infrared and micro-Raman spectra,the possible origins of the two bands are discussed.The peaks around 850 nm after annealing at 1170℃ are associated with the precipitation of nanocrystalline silicon,and this supports the quantum confinement effect.
    • 基金项目: 国家自然科学基金资助的课题.
计量
  • 文章访问数:  5960
  • PDF下载量:  607
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1997-08-19
  • 修回日期:  1997-09-24
  • 刊出日期:  1998-03-05

/

返回文章
返回