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SiC多型体几何结构与电子结构研究

姜振益 许小红 武海顺 张富强 金志浩

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SiC多型体几何结构与电子结构研究

姜振益, 许小红, 武海顺, 张富强, 金志浩
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Jiang Zhen-Yi, Xu Xiao-Hong, Wu Hai-Shun, Zhang Fu-Qiang, Jin Zhi-Hao
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  • 采用平面波超软赝势法和范数不变赝势法对几种SiC多型体的几何结构、能带结构等进行了系统的研究.结果表明:6HSiC导带最低点在ML线上U点,用平面波超软赝势法计算时U点在(0000,0500,0176)点附近;而用范数不变赝势法计算时在导带最低点附近能带呈现不连续点,不连续点出现在(0000,0500,0178)点附近.两种赝势法计算结果相比,用平面波超软赝势法得到的导带最低点位置更靠近布里渊区M(0,05,0)点.在平面波超软赝势下,随着六角度的增加,cp,cpa增大的趋势较为明显,能隙和价带宽度变宽的趋势也较为明显.在计算极限内,绝对零度下4HSiC系统能量最低、最稳定,而Ewald能量显示3CSiC最稳定.
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    • 基金项目: 山西省青年科技基金 (批准号 :2 0 0 110 11);国家教育部骨干教师基金;山西省归国学者基金资助的课题
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出版历程
  • 收稿日期:  2001-09-19
  • 修回日期:  2001-11-19
  • 刊出日期:  2002-07-20

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