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利用双色激光场下域上电离谱鉴别H32+ 两种不同分子构型

周旭聪 石尚 李飞 孟庆田 王兵兵

利用双色激光场下域上电离谱鉴别H32+ 两种不同分子构型

周旭聪, 石尚, 李飞, 孟庆田, 王兵兵
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出版历程
  • 收稿日期:  2020-01-03

利用双色激光场下域上电离谱鉴别H32+ 两种不同分子构型

  • 1. 山东师范大学
  • 2. 中国科学院物理研究所
  • 3. 中科院物理所
  • 通信作者: 王兵兵, wbb@aphy.iphy.ac.cn
    基金项目: 国家级-国家自然科学基金(11474348)

摘要: 我们最近证明,利用红外和深紫外双色激光场,SF6分子的结构信息可以通过其电离谱上的相干条纹获得[arXiv, 1912.08499 (2019)]。在本文中,我们利用该方法考察了两种不同几何结构的分子离子H32+ 在激光场中的直接阈上电离(ATI)过程。通过与单色激光场中电离谱的比较发现,双色激光场的电离谱可以分辨分子的不同几何结构。由相干条件导出的公式可以很好地解释直接ATI动能谱和动量谱中的干涉条纹。此外,还发现通过改变分子核间距或改变激光强度可以改变电离谱的形状。由此可以推断,

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