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利用双载流子四陷阱模型解释Zn:Fe:LiNbO3晶体记录过程中的自擦除现象

孟庆鑫 宫德维 张建隆 孙秀冬

利用双载流子四陷阱模型解释Zn:Fe:LiNbO3晶体记录过程中的自擦除现象

孟庆鑫, 宫德维, 张建隆, 孙秀冬
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出版历程
  • 收稿日期:  2003-09-09
  • 修回日期:  2003-10-30
  • 刊出日期:  2004-06-15

利用双载流子四陷阱模型解释Zn:Fe:LiNbO3晶体记录过程中的自擦除现象

  • 1. 哈尔滨工业大学应用物理系,哈尔滨 150001
    基金项目: 

    教育部优秀青年教师资助计划,黑龙江省留学归国基金(批准号:LC01C11)和哈尔滨工业大学校基金(批准号:HIT2001.33)资助的课题.

摘要: 比较了掺Fe量相同的两种晶体Fe:LiNbO3和Zn:Fe:LiNbO3的光折变性能,并且给出了Zn:Fe:LiNbO3晶体光电导和衍射效率与入射总光强的关系.在Zn:Fe:LiNbO3晶体二波耦合实验中观察到衍射效率随记录时间的增长先增加,达到饱和后又逐渐减小的自擦除现象,并采用光折变双载流子四陷阱模型对该现象加以解释. 在此基础上选择合适的曝光时序,利用角度复用技术在该晶体中进行体全息存储,并在同一点上存入30幅图像.

English Abstract

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