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Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格参数与组分关系的研究

王庆学 杨建荣 孙 涛 魏彦锋 方维政 何 力

Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格参数与组分关系的研究

王庆学, 杨建荣, 孙 涛, 魏彦锋, 方维政, 何 力
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出版历程
  • 收稿日期:  2004-10-13
  • 修回日期:  2005-03-10
  • 刊出日期:  2005-04-05

Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格参数与组分关系的研究

  • 1. 中国科学院上海技术物理研究所,上海 200083
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:60221502)资助的课题.

摘要: 高分辨率x射线衍射技术被应用于Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格 参数的测量及其晶格应变状态的研究,研究发现Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜 内既存在正应变也存在剪切应变. 通过应用晶体弹性理论,对Hg1-xCdx Te分子束外延薄膜的应变状态进行了定量的分析与计算,获得了Hg1-xCd xTe 分子束外延薄膜在完全弛豫状态下的晶格参数,从而得到了Hg1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格参数与组分的关系,该关系符合Vegard’s定律,而不是早期研究所给出的Hig gins公式. 研究还发现,根据对称衍射测量所得到的(224)晶面间距,可直接计算出Hg 1-xCdxTe分子束外延薄膜晶格参数,并用Vegard’s定律确定组分的方 法,可作为估算Hg1-xCdxTe分子束外延材料组分的常规技术,其 组分的测量误差在0.01左右.

English Abstract

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