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分布损耗对回旋行波放大器稳定性的影响

罗积润 孙海燕 焦重庆

分布损耗对回旋行波放大器稳定性的影响

罗积润, 孙海燕, 焦重庆
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-02-28
  • 修回日期:  2008-05-23
  • 刊出日期:  2009-01-20

分布损耗对回旋行波放大器稳定性的影响

  • 1. (1)中国科学院电子学研究所,北京 100190; (2)中国科学院电子学研究所,北京 100190;中国科学院研究生院,北京 100049

摘要: 基于电磁模式的色散方程和回旋管非线性理论,研究了损耗层厚度对回旋行波放大器注-波互作用的影响.结果表明,合理选择损耗层电导率和厚度能够让期待的工作模式TE01衰减较小,而对应的竞争模式TE21因损耗很大而更难以起振,随厚度的增加,放大带宽从两边向中间收缩变窄,频带中间部分的输出功率会上升,曲线更加平坦,从而达到改善互作用稳定性的目的.

English Abstract

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