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基于微芯片的透射电子显微镜的低温纳米精度电子束刻蚀与原位电学输运性质测量

张超 方粮 隋兵才 徐强 王慧

基于微芯片的透射电子显微镜的低温纳米精度电子束刻蚀与原位电学输运性质测量

张超, 方粮, 隋兵才, 徐强, 王慧
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  • 利用微芯片制备技术制备了带有电极的原位电学薄膜芯片, 并结合自制的原位透射电镜样品台, 实现了低温下透射电子显微镜聚焦电子束对InAs纳米线的精细刻蚀以及不同温度下的原位电学性能测量. 研究发现, 随着刻蚀区域截面积的减小, 纳米线的电导率也随之减小. 当纳米线的截面积从大于10000 nm2刻蚀至约800 nm2时, 纳米线电导的减小速率与截面积的减小具有线性关系. 同时利用低温聚焦电子束刻蚀, 在InAs纳米线上原位制备了一个10 nm的纳米点, 并在77与300 K下对该纳米点进行了电学性能测量. 通过测量发现在77 K 时出现库仑阻塞效应, 发生了电子隧穿现象; 而300 K时, 热扰动提供的能量使这种现象消失.
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号: 61106084, 61332003)资助的课题.
    [1]

    Storm A J, Chen J H, Ling X S, Zandbergen H W, Dekker C 2003 Nature Mater. 2 537

    [2]

    Wu M Y, Smeets R M M, Zandbergen M, Ziese U, Krapf D, Batson P E, Dekker N H, Dekker C, Zandbergen H W 2008 Nano Lett. 9 479

    [3]

    Zandbergen H W, van Duuren R J, Alkemade P F, Lientschnig G, Vasquez O, Dekker C, Tichelaar F D 2005 Nano Lett. 5 549

    [4]

    Krapf D, Wu M Y, Smeets R M M, Zandbergen H W, Dekker C, Lemay S G 2006 Nano Lett. 6 105

    [5]

    Fischbein M D, Drndic M 2007 Nano Lett. 7 1329

    [6]

    Song B, Schneider G F, Xu Q, Pandraud G, Dekker C, Zandbergen H W 2011 Nano Lett. 11 2247

    [7]

    Xu Q, Wu M Y, Schneider G F, Houben L, Malladi S K, Dekker C, Yucelen E, Dunin B R E, Zandbergen H W 2013 ACS Nano 7 1566

    [8]

    Lu Y, Merchant C A, Drndic M, Johnson A T C 2011 Nano Lett. 11 5184

    [9]

    Liu K, Feng J, Kis A, Radenovic A 2014 ACS Nano 8 2504

    [10]

    Zhang J, You L, Ye H, Yu D P 2007 Nanotechnology 18 155303

    [11]

    Wang Z L, Poncharal P, De Heer W A 2000 Pure Appl. Chem. 72 209

    [12]

    Wang J J, Shao R W, Deng Q S, Zheng K 2014 Acta Phys. Sin. 63 117303 (in Chinese) [王疆靖, 邵瑞文, 邓青松, 郑坤 2014 物理学报 63 117303]

    [13]

    Ennos A E 1953 Br. J. Appl. Phys. 4 101

    [14]

    Averin D V, Likharev K K 1986 J. Low Tem. Phys. 62 345

    [15]

    Sui B C, Fang L, Zhang C 2011 Acta Phys. Sin. 60 077302

    [16]

    Huang W Q, Miao X J, Huang Z M, Cheng H Q, Su Q 2013 Chin. Phys. B 22 64207

    [17]

    Wang H, Han W H, Ma L H, Li X M, Yang F H 2014 Chin. Phys. B 23 88107

    [18]

    Wang H Y, Dou X M, Ni H Q, Niu Z C Sun B Q 2014 Acta Phys. Sin. 63 0278010

    [19]

    Ford A C, Ho J C, Chueh Y L, Tseng Y C, Fan Z, Guo J, Bokor J, Javey A 2008 Nano Lett. 9 360

    [20]

    Scheffler M, Nadj P S, Kouwenhoven L P, Borgström M T, Bakkers E P A M 2009 J. Appl. Phys. 106 124303

  • [1]

    Storm A J, Chen J H, Ling X S, Zandbergen H W, Dekker C 2003 Nature Mater. 2 537

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    Ennos A E 1953 Br. J. Appl. Phys. 4 101

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    Ford A C, Ho J C, Chueh Y L, Tseng Y C, Fan Z, Guo J, Bokor J, Javey A 2008 Nano Lett. 9 360

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  • [1] 刘庆纲, 胡小唐, 匡登峰, 胡留长, 郭维廉. 纳米隧道结的制备和特性研究. 物理学报, 2006, 55(1): 80-83. doi: 10.7498/aps.55.80
    [2] 阮美玲, 王震遐, 杨锦晴, 王玟珉, 俞国庆. 一些新颖碳纳米结构的高分辨率透射电子显微镜研究. 物理学报, 1999, 48(11): 2092-2097. doi: 10.7498/aps.48.2092
    [3] 郭可信, 林保军. 镍铬合金中不全位错的透射电子显微镜观察. 物理学报, 1980, 175(4): 494-499. doi: 10.7498/aps.29.494
    [4] 程鹏翥, 马晓华, 罗棨光, 杨大宇. 透射电子显微镜样品的电解抛光制备方法. 物理学报, 1981, 30(2): 286-290. doi: 10.7498/aps.30.286
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    [7] 郭永翔, 黑祖昆, 吴玉琨, 郭可信. Ni-Zr非晶合金晶化的透射电子显微镜研究(Ⅰ) ——Ni67Zr33晶化过程中的亚稳相. 物理学报, 1986, 35(3): 359-364. doi: 10.7498/aps.35.359
    [8] 林振金, 李方华, 杨大宇, 田静华, 李龙. Ce1+εFe4B4合金一维无公度调制结构的透射电子显微镜研究. 物理学报, 1990, 39(5): 788-792. doi: 10.7498/aps.39.788
    [9] 李贻杰, 熊光成, 甘子钊, 任琮欣, 邹世昌. Ar离子注入YBa2Cu3O7-x超导薄膜中微结构变化的透射电子显微镜研究. 物理学报, 1993, 42(3): 482-487. doi: 10.7498/aps.42.482
    [10] 杨权, 马立, 杨斌, 丁汇洋, 陈涛, 杨湛, 孙立宁, 福田敏男. 基于扫描电子显微镜的碳纳米管拾取操作方法研究. 物理学报, 2018, 67(13): 136801. doi: 10.7498/aps.67.20180347
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出版历程
  • 收稿日期:  2014-05-28
  • 修回日期:  2014-08-07
  • 刊出日期:  2014-12-20

基于微芯片的透射电子显微镜的低温纳米精度电子束刻蚀与原位电学输运性质测量

  • 1. 国防科技大学, 高性能计算国家重点实验室, 长沙 410073;
  • 2. 国防科技大学计算机学院, 长沙 410073;
  • 3. Delft University of Technology, Kavli Institute of Nanoscience, 2628 CJ, Delft, The Netherlands;
  • 4. 北京航空航天大学材料科学与工程学院, 空天先进材料与服役教育部重点实验室, 北京 100191
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号: 61106084, 61332003)资助的课题.

摘要: 利用微芯片制备技术制备了带有电极的原位电学薄膜芯片, 并结合自制的原位透射电镜样品台, 实现了低温下透射电子显微镜聚焦电子束对InAs纳米线的精细刻蚀以及不同温度下的原位电学性能测量. 研究发现, 随着刻蚀区域截面积的减小, 纳米线的电导率也随之减小. 当纳米线的截面积从大于10000 nm2刻蚀至约800 nm2时, 纳米线电导的减小速率与截面积的减小具有线性关系. 同时利用低温聚焦电子束刻蚀, 在InAs纳米线上原位制备了一个10 nm的纳米点, 并在77与300 K下对该纳米点进行了电学性能测量. 通过测量发现在77 K 时出现库仑阻塞效应, 发生了电子隧穿现象; 而300 K时, 热扰动提供的能量使这种现象消失.

English Abstract

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