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X射线二极管时间特性研究

孙可煦 江少恩 易荣清 崔延莉 丁永坤 刘慎业

X射线二极管时间特性研究

孙可煦, 江少恩, 易荣清, 崔延莉, 丁永坤, 刘慎业
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  • 研究X射线二极管(XRD)时间特性.XRD 是构成软X射线能谱仪的主要部件,它用于激光等离子体发射软X射线谱测量.实验利用激光聚变研究中心的200TW激光器(激光能量~6J,脉冲宽度~30fs)打金箔靶产生的X射线发射谱,用滤片(Al)-XRD探测系统测量,探测信号由高频电缆(SUJ-50-10)传输和宽带示波器(TDS694C和TDS6604B)记录.实验数据进行了线性拟合和比对分析.
    • 基金项目: 国家高技术研究发展计划(批准号:863-804-3)资助的课题.
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-02-04
  • 修回日期:  2005-05-16
  • 刊出日期:  2006-01-20

X射线二极管时间特性研究

  • 1. 中国工程物理研究院激光聚变研究中心,高温高密度等离子体国家重点实验室,四川绵阳 621900
    基金项目: 

    国家高技术研究发展计划(批准号:863-804-3)资助的课题.

摘要: 研究X射线二极管(XRD)时间特性.XRD 是构成软X射线能谱仪的主要部件,它用于激光等离子体发射软X射线谱测量.实验利用激光聚变研究中心的200TW激光器(激光能量~6J,脉冲宽度~30fs)打金箔靶产生的X射线发射谱,用滤片(Al)-XRD探测系统测量,探测信号由高频电缆(SUJ-50-10)传输和宽带示波器(TDS694C和TDS6604B)记录.实验数据进行了线性拟合和比对分析.

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