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分子超激发态的理论研究:F2分子离子对解离效率谱的标识及强度

郝玉松 莫宇翔 张卫华 何春龙 李家明

分子超激发态的理论研究:F2分子离子对解离效率谱的标识及强度

郝玉松, 莫宇翔, 张卫华, 何春龙, 李家明
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出版历程
  • 收稿日期:  2008-07-12
  • 修回日期:  2008-08-28
  • 刊出日期:  2009-04-20

分子超激发态的理论研究:F2分子离子对解离效率谱的标识及强度

  • 1. (1)清华大学物理系,原子分子纳米科学教育部重点实验室,北京 100084; (2)上海交通大学物理系,上海市激光制造与材料改性重点实验室,上海 200030;清华大学物理系,原子分子纳米科学教育部重点实验室,北京 100084
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:10734040,10574162)、国家重点基础研究发展计划(973计划)(批准号:2006CB921408)和教育部科学技术研究重大项目(批准号:306020)资助的课题.

摘要: 在量子数亏损理论框架下,应用多重散射自洽场方法和含时波包演化法研究了F2分子经过超激发态发生离子对解离产生的F-离子产生效率谱.根据我们的计算,可以给出清楚的标识,并且对实验谱的相对强度可以给出初步说明.

English Abstract

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