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用高分辨电子显微术直接鉴定ZnS多型体中堆垛序列和缺陷

康振川

用高分辨电子显微术直接鉴定ZnS多型体中堆垛序列和缺陷

康振川
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出版历程
  • 收稿日期:  1981-06-08
  • 刊出日期:  2005-07-27

用高分辨电子显微术直接鉴定ZnS多型体中堆垛序列和缺陷

  • 1. 北京市冶金研究所

摘要: 用倾斜束照明的电子显微术在分辨率为3.12?的水平上摄照了点阵象,直接观察了ZnS多型体的堆垛次序,这方法被用于揭示ZnS堆垛的无序和层错。

English Abstract

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