搜索

文章查询

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

X射线衍射多晶谱计算机深度层析技术探索

骆建 陶琨

X射线衍射多晶谱计算机深度层析技术探索

骆建, 陶琨
PDF
导出引用
导出核心图
计量
  • 文章访问数:  2508
  • PDF下载量:  533
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1994-09-01
  • 刊出日期:  1995-11-20

X射线衍射多晶谱计算机深度层析技术探索

  • 1. 清华大学材料科学研究所,北京100084
    基金项目: 

    国家自然科学基金

摘要: 提出了一种可用于将来自不同真实深度处的X射线衍射谱信息各自分离出来的技术方案,可以得出不同深度处的衍射强度、峰位和线形.该方法是定量和无损的,并且其深度尺度是真实尺度.此外并提出了吸收深度的概念.这一技术可称为直接法X射线衍射计算机深度层析技术,其可行性用Ni/Mo.双层膜样品进行了初步验证.该方法可应用于定量无损地测量峰形、峰位和峰强的深度剖面,并有可能用于界面层分析.

English Abstract

目录

    /

    返回文章
    返回