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测定超导体临界特性曲线的新方法

陈普芬 郑国光 管惟炎

测定超导体临界特性曲线的新方法

陈普芬, 郑国光, 管惟炎
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出版历程
  • 收稿日期:  1964-11-10
  • 刊出日期:  2005-08-05

测定超导体临界特性曲线的新方法

摘要: 本文描述了测定超导体临界特性曲线的持续电流方法。和文献上通常采用的四引线方法相比较,本方法具有下列优点:(1)Ic(H)曲线的物理意义明确;(2)避免了向液氦杜瓦瓶内输入大电流时技术上的困难;(3)没有烧坏样品的危险。用本方法测量了冷加工铌线的Ic(H)曲线,结果证明了以前用四引线方法所得Ic(H)特性曲线中峯的存在。

English Abstract

参考文献 (1)

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