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单晶结构分析的次级消光校正

高余铭 李德宇

单晶结构分析的次级消光校正

高余铭, 李德宇
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出版历程
  • 收稿日期:  1981-06-08
  • 刊出日期:  1982-02-05

单晶结构分析的次级消光校正

  • 1. 中国科学院上海硅酸盐研究所

摘要: 本文描述了一种在晶体结构分析中把次级消光作为最小二乘参数进行校正的方法及其计算程序,并给出它用于几个晶体结构修正的效果。

English Abstract

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