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Si(111)表面在NH3气氛下形成Si3N4薄膜的STM研究

翟光杰 杨建树 陈显邦 王学森

Si(111)表面在NH3气氛下形成Si3N4薄膜的STM研究

翟光杰, 杨建树, 陈显邦, 王学森
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出版历程
  • 刊出日期:  2000-02-20

Si(111)表面在NH3气氛下形成Si3N4薄膜的STM研究

  • 1. 香港科技大学物理系,香港九龙清水湾
    基金项目: 

    香港特别行政区研究拨款委员会资助!(RGC)

摘要: 利用扫描隧道显微镜(STM)对Si(111)在氨气气氛下进行氮化所获得的氮化硅薄膜形貌和表面结构进行了系统分析,结果表明在1075—1275K的温度下对Si(111)进行氮化可以获得较平整的晶态βSi3N4薄膜,并在氮化膜表面观察到了Si3N4(0001)表面的(4×4)再构.

English Abstract

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