搜索

文章查询

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

低损耗材料微波介电性能测试中识别TE01d模式的新方法

李雷 颜涵 陈湘明

低损耗材料微波介电性能测试中识别TE01d模式的新方法

李雷, 颜涵, 陈湘明, 等
PDF
导出引用
导出核心图
计量
  • 文章访问数:  20
  • PDF下载量:  0
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2020-02-24

低损耗材料微波介电性能测试中识别TE01d模式的新方法

  • 浙江大学材料科学与工程学院

摘要: 工作于TE01d模式的金属谐振腔法是评价低损耗材料微波介电性能的通用方法。微波介质谐振器均为多模式谐振器,故正确识别TE01d模式是微波介电测试的基础。TE01d模式的识别可通过预测谐振频率及其随谐振器尺寸的变化、根据激励条件排除寄生模式等手段实现,但已有方法存在复杂、易识别错误等缺点。为此,本论文发展了一种准确识别TE01d模式的简单方法。这种方法引入了介电性能已知的低损耗参考试样,通过测试金属谐振腔中只放置参考试样及同时放置参考试样和待测试样时TE01d模式的谐振频率,利用有限单元分析计算出待测试样的粗略介电常数,并进一步预测只放置待测试样时TE01d模式的谐振频率。此谐振频率的预测值与测试结果相差1%以内,因此很容易将TE01d模式与其它寄生模式区分开,进而实现TE01d模式的准确识别。

English Abstract

目录

    /

    返回文章
    返回