高功率微波作用下热载流子引起n型金属-氧化物-半导体场效应晶体管特性退化研究
物理学报
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物理学报  2012, Vol. 61 Issue (10): 108501     doi:10.7498/aps.61.108501
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高功率微波作用下热载流子引起n型金属-氧化物-半导体场效应晶体管特性退化研究
游海龙, 蓝建春, 范菊平, 贾新章, 查薇
西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件重点实验室, 西安 710071
Research on characteristics degradation of n-metal-oxide-semiconductor field-effect transistor induced by hot carrier effect due to high power microwave
You Hai-Long, Lan Jian-Chun, Fan Ju-Ping, Jia Xin-Zhang, Zha Wei
Key Laboratory of Wide Band-Gap Semiconductor Materials and Devices, School of Microelectronics, Xidian University, Xi'an 710071, China

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