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表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验

贺洪波 范正修 邵建达 范树海 赵元安

表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验

贺洪波, 范正修, 邵建达, 范树海, 赵元安
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-03-24
  • 修回日期:  2005-07-05
  • 刊出日期:  2005-06-05

表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验

  • 1. (1)中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800; (2)中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800;中国科学院研究生院,北京 100039
    基金项目: 

    上海市科学技术委员会光科技专项行动计划(批准号:011661076)资助的课题.

摘要: 由薄膜表面光热形变简化理论和表面热透镜衍射理论导出表面热透镜信号表达式,从理论上证明了表面热透镜信号和薄膜吸收率的线性关系. 应用表面热透镜技术研制了薄膜吸收测量仪,测量结果表明其吸收率测量灵敏度和精度均达10-6量级.

English Abstract

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