搜索

文章查询

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

王英龙 魏同茹 刘保亭 邓泽超

外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

王英龙, 魏同茹, 刘保亭, 邓泽超
PDF
导出引用
导出核心图
计量
  • 文章访问数:  3960
  • PDF下载量:  1216
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  2006-09-07
  • 修回日期:  2006-10-09
  • 刊出日期:  2007-05-20

外延PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其铁电性能的影响

  • 1. 河北大学物理科学与技术学院,保定 071002
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:50572021)、河北省自然科学基金(批准号:E2005000130)、国家人事部留学人员择优资助(批准号:G05-06)、教育部留学回国人员科研启动基金(批准号:2005-546)资助的课题.

摘要: 从Landau-Devonshire唯象理论出发,考虑到晶格失配导致的NFDA3位错应力场与极化场的耦合,研究了在SrTiO3衬底上外延生长的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜厚度对其自发极化强度、电滞回线的影响. 结果表明,产生刃位错的PbZr0.4Ti0.6O3薄膜临界厚度为~1.27nm,当薄膜厚度大于临界厚度时,在所形成的位错附近,极化强度出现急剧变化,形成自发极化强度明显减弱的“死层”;随着薄膜厚度的减小,位错间距增大,“死层”厚度与薄膜总厚度之比增加. 由薄膜电滞回线的变化情况可知,其剩余极化强度随着薄膜厚度的减小而逐渐减小.

English Abstract

目录

    /

    返回文章
    返回