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结构光照明显微中的偏振控制

赵天宇 周兴 但旦 千佳 汪召军 雷铭 姚保利

结构光照明显微中的偏振控制

赵天宇, 周兴, 但旦, 千佳, 汪召军, 雷铭, 姚保利
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出版历程
  • 收稿日期:  2017-05-16
  • 修回日期:  2017-06-13
  • 刊出日期:  2017-07-20

结构光照明显微中的偏振控制

    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:61522511,11404389,81427802,11474352)和陕西省自然科学基础研究计划(批准号:2016JZ020)资助的课题.

摘要: 结构光照明显微(structured illumination microscopy,SIM)作为一种宽场超分辨光学显微成像技术,具有成像速度快、光漂白和光毒性弱等优点,是目前主流超分辨成像方法之一.在SIM技术中,正弦强度分布的条纹结构光场的对比度决定了SIM超分辨图像的质量.低的条纹对比度将导致样品中超衍射极限的高频信息被噪声掩盖,从而无法解析出超分辨信息.结构照明入射光的偏振态调控决定了干涉条纹的对比度,是SIM的关键技术.鉴于此,本文总结对比了几种典型的SIM系统偏振控制方法,同时提出了一种使用零级涡旋半波片的偏振控制方法.实验证明,与其他方法相比,采用零级涡旋半波片法可以获得更高效的偏振控制效果,具有系统结构简单、易使用、可将光能利用率提升到接近100%的优点.

English Abstract

参考文献 (22)

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