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用场发射显微镜研究单壁碳纳米管场发射

孙建平 张兆祥 侯士敏 赵兴钰 刘惟敏 薛增泉 施祖进 顾镇南

用场发射显微镜研究单壁碳纳米管场发射

孙建平, 张兆祥, 侯士敏, 赵兴钰, 刘惟敏, 薛增泉, 施祖进, 顾镇南
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出版历程
  • 收稿日期:  2001-03-09
  • 刊出日期:  2001-09-20

用场发射显微镜研究单壁碳纳米管场发射

  • 1. (1)北京大学电子学系,北京100871; (2)北京大学化学与分子工程学院,北京100871
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:69971003

    69890221)

    教育部科学技术研究重点项目(批准号:00005)资助的课题.

摘要: 利用场发射显微镜在小于40×10-7Pa压强条件下研究了单壁碳纳米管微束在不同温度加热除气后的场发射变化,得出随着除气温度的升高,碳纳米管逸出功经历了从大到小再变大的变化过程.在清洁态(1000℃除气)对应有最小的逸出功,此时场发射图像显示出一定的细致结构.继续升高温度,碳纳米管发生塌缩.

English Abstract

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