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X射线探测器的脉冲标定技术

孙景文

X射线探测器的脉冲标定技术

孙景文
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出版历程
  • 收稿日期:  1985-08-09
  • 刊出日期:  2005-07-14

X射线探测器的脉冲标定技术

  • 1. 西南流体物理研究所

摘要: 利用强流电子束技术产生通量密度为1018—1019X-ray photon/sr·s的脉冲CuKX射线源,标定PIN型硅二极管半导体探测器对X光子的脉冲灵敏度。用绝对X射线监测器——P10气体脉冲电离室作为脉冲X射线通量密度的标准。脉冲电荷自动测量仪由微处理机进行程序控制,并予以实时校准。该电离室测量通量密度的精度为±5%,适用的能通量率范围可达4×10-9—2×102W/cm2,适用的光子能量范围为1.5—10keV,标定探测器的精度为±7.0%,并发现PIN型硅二极管的脉冲灵敏度比稳态X射线束标定的灵敏度高30%左右。

English Abstract

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