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测定纳米晶粒尺寸分布的新方法及其应用

古堂生 石舜森 林光明

测定纳米晶粒尺寸分布的新方法及其应用

古堂生, 石舜森, 林光明
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  • 介绍了一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法——X射线衍射谱峰形拟合法,阐述了其理论模型和基本假设,应用它对化学法制备的纳米SnO2的晶粒分布进行了分析,得出较理想的结果,并对此法进行了技术评估.
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出版历程
  • 收稿日期:  1998-05-25
  • 修回日期:  1998-08-27
  • 刊出日期:  1999-01-05

测定纳米晶粒尺寸分布的新方法及其应用

  • 1. 中山大学物理系,广州 510275

摘要: 介绍了一种测定纳米晶粒尺寸分布的新方法——X射线衍射谱峰形拟合法,阐述了其理论模型和基本假设,应用它对化学法制备的纳米SnO2的晶粒分布进行了分析,得出较理想的结果,并对此法进行了技术评估.

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