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拼接型光栅对压缩器中刻线密度差对输出脉冲的影响及补偿方案

赵丹 王逍 母杰 左言磊 周松 周凯南 曾小明 李志林 粟敬钦 朱启华

拼接型光栅对压缩器中刻线密度差对输出脉冲的影响及补偿方案

赵丹, 王逍, 母杰, 左言磊, 周松, 周凯南, 曾小明, 李志林, 粟敬钦, 朱启华
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  • 拼接型光栅对压缩器中子光栅的刻线密度不一致会降低压缩器的品质,补偿刻线密度差的影响对于提高输出脉冲的性能具有十分重要的意义.基于光线追迹的方法建立了理论模型,数值分析了刻线密度差所导致的出射光角度偏移及输出脉冲展宽程度.提出同时用水平角偏误差和纵向错位误差来补偿光栅刻线密度差影响的方案,给出不同刻线密度差时的理论光栅偏转角度和对应的平移距离以及该方案的补偿范围.利用空谱干涉测量方法,验证了该方案在一定范围内可校正出射光的角度偏转,较好地补偿二、三阶色散误差,且实验与理论结果较为符合.本研究可为拼接光栅压缩器的设计与调整提供指导.
      通信作者: 王逍, wangxiaocn@caep.cn
    • 基金项目: 国家自然科学基金(批准号:61308040,61505188)和国家高技术研究发展计划(批准号:2015AA8043047)资助的课题.
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    Dubietis A, Butkus R, PiskarskasA P 2006 IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 12 163

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    Kitagiwa Y, Fujita H 2004 IEEE J. Quantum Electron. 40 281

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    Treacy E B 1969 IEEE J. Quantum Electron. QE-5 454

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    Martinez O E 1987 IEEE J. Quantum Electron. QE-2 359

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    Liu W B, Feng G Y, Zhu Q H, Wang X 2006 Laser Technology 30 334 (in Chinese)[刘文兵, 冯国英, 朱启华, 王逍2006激光技术30 334]

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    Ma X M, Dai Y P, Zhu J Q 2006 Acta Optica Sinica 26 161 (in Chinese)[马雪梅, 戴亚平, 朱健强2006光学学报26 161]

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    Cao H B, Lu X Q, Fan D Y 2011 Acta Optica Sinica 31 1005004 (in Chinese)[曹华保, 卢兴强, 范滇元2011光学学报31 1005004]

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    Kessler T J, Bunkenburg J, Iwan L, Kellogg C, Skulski W 2004 LLE Review Quarterly Report 100 242

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    Zuo Y L 2007 Ph. D. Dissertation (Beijing:Tsinghua University) (in Chinese)[左言磊2007博士学位论文(北京:清华大学)]

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    Zhang Z G, Yagi T, Arisawa T 1997 Appl. Opt. 36 3393

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    Liu L Q 2005 Ph. D. Dissertation (Mianyang:China Academy of Engineering Physics) (in Chinese)[刘兰琴2005博士学位论文(绵阳:中国工程物理研究院)]

    [14]

    Meshulach D, Yelin D, Silberberg Y 1997 J. Opt. Soc. Am. B 14 2095

    [15]

    Zuo Y L, Zhou K N, Wu Z H, Wang X, Xie N, Su J Q, Zeng X M 2016 Laser Phys. Lett. 13 055302

    [16]

    Bowlan P, Gabolde P, Shreenath A, McGresham K, Trebino R 2006 Opt. Express 14 11892

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    Bowlan P, Gabolde P, Shreenath A, McGresham K, Trebino R 2006 Opt. Express 14 11892

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出版历程
  • 收稿日期:  2016-08-26
  • 修回日期:  2016-10-25
  • 刊出日期:  2017-01-20

拼接型光栅对压缩器中刻线密度差对输出脉冲的影响及补偿方案

  • 1. 中国工程物理研究院激光聚变研究中心, 等离子体物理重点实验室, 绵阳 621900;
  • 2. 中国工程物理研究院研究生院, 北京 100088;
  • 3. 上海交通大学IFSA协同创新中心, 上海 200240
  • 通信作者: 王逍, wangxiaocn@caep.cn
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:61308040,61505188)和国家高技术研究发展计划(批准号:2015AA8043047)资助的课题.

摘要: 拼接型光栅对压缩器中子光栅的刻线密度不一致会降低压缩器的品质,补偿刻线密度差的影响对于提高输出脉冲的性能具有十分重要的意义.基于光线追迹的方法建立了理论模型,数值分析了刻线密度差所导致的出射光角度偏移及输出脉冲展宽程度.提出同时用水平角偏误差和纵向错位误差来补偿光栅刻线密度差影响的方案,给出不同刻线密度差时的理论光栅偏转角度和对应的平移距离以及该方案的补偿范围.利用空谱干涉测量方法,验证了该方案在一定范围内可校正出射光的角度偏转,较好地补偿二、三阶色散误差,且实验与理论结果较为符合.本研究可为拼接光栅压缩器的设计与调整提供指导.

English Abstract

参考文献 (16)

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