搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

一种测量微波张量磁化率和有效线宽的方法

廖绍彬 尹光俊 刘进 周丽年

引用本文:
Citation:

一种测量微波张量磁化率和有效线宽的方法

廖绍彬, 尹光俊, 刘进, 周丽年

A METHOD OF MEASURING TENSOR SUSCEPTIBILITY AND EFFECTIVE LINEWIDTH

LIAO SHAO-BIN, YIN GUANG-JUN, LIU JIN, ZHOU LI-NIAN
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  4436
  • PDF下载量:  346
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1979-05-14
  • 刊出日期:  2005-07-29

一种测量微波张量磁化率和有效线宽的方法

  • 1. 北京大学物理系

摘要: 本文提出一种能用同一样品测定共振区和非共振区的微波张量磁化率和有效线宽的方法。在此方法中,将外加稳恒磁场旋转,与微波磁场形成一定的夹角,以调整被测样品对谐振腔的影响。同时将Patton采用的计算有效线宽的迭代法,推广用来计算微波张量磁化率各组元Xe,Xαe和正。负圆偏振标量磁化率X±e等。本文还介绍了测量装置和测量结果。

English Abstract

参考文献 (1)

目录

    /

    返回文章
    返回