用范德保法测量碳化硅的电阻率和霍耳效应
物理学报
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物理学报  1966, Vol. 22 Issue (9): 967-975
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用范德保法测量碳化硅的电阻率和霍耳效应
冯锡淇, 骆宾章, 唐福娣, 张雁行, 洪福根, 谭浩然
中国科学院
MEASUREMENTS OF RESISTIVITY AND HALL EFFECT IN SILICON CARBIDE BY THE VAN DER PAUW METHOD
FUNG SI-CHI, LOG BIN-CHANG, TON FU-DI, CHANG YEN-SING, HONG FU-GUN, TAM HOA-YEN
中国科学院

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