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光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量

刘永军 胡立发 李大禹 曹召良 宣 丽 穆全全

光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量

刘永军, 胡立发, 李大禹, 曹召良, 宣 丽, 穆全全
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出版历程
  • 收稿日期:  2005-03-31
  • 修回日期:  2005-08-01
  • 刊出日期:  2006-03-20

光谱型椭偏仪对各向异性液晶层的测量

  • 1. (1)中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,长春 130033; (2)中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室,长春 130033;中国科学院研究生院,北京 100049
    基金项目: 

    国家自然科学基金(批准号:60277033,50473040,19974046,59973020)和吉林省科委基金(批准号:20020603)资助的课题.

摘要: 探讨了利用普通光谱型椭偏仪对各向异性液晶层进行综合性测量的可行性. 并利用法国Jobin Yvon公司的UVISEL SPME(Spectroscopic Phase Modulated Ellipsometer)光谱型椭偏仪测量了光学各向异性液晶层的折射率no和ne及液晶层厚d,进一步利用椭偏仪在透射方式下测量了平行排列液晶层的光延迟特性Δnd,二者取得了很好的一致性,说明利用光谱型椭偏仪可以实现对光学单轴性液晶层及其他材料的测量,测厚精度为纳米量级.

English Abstract

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