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衍射分析用的X射线管谱线纯度的定量测定

郭常霖

衍射分析用的X射线管谱线纯度的定量测定

郭常霖
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出版历程
  • 收稿日期:  1978-12-11
  • 刊出日期:  2005-07-29

衍射分析用的X射线管谱线纯度的定量测定

  • 1. 中国科学院上海硅酸盐化学与工学研究所

摘要: 本文提出了衍射分析用的X射线管谱线纯度的定量测定方法。在国产衍射仪上用石英单晶作分光晶体进行展谱测定。实验测得的各种波长X射线的强度应还原为X射线管窗口处的出射强度。对影响强度的各种因素作了详细的理论分析,给出了对应于不同靶、不同杂质元素的强度还原换算因子表。X射线管阳极靶元素主特征谱线强度用铜或铝吸收箔进行衰减,以避免计数损失造成的误差。用这一方法,对许多X射线管进行了测定。

English Abstract

参考文献 (1)

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