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光折变BaTiO3晶体缺陷的分析电子显微镜研究

杨翠英 张道范 吴星 周玉清 冯国光

光折变BaTiO3晶体缺陷的分析电子显微镜研究

杨翠英, 张道范, 吴星, 周玉清, 冯国光
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出版历程
  • 收稿日期:  1989-02-15
  • 刊出日期:  1989-06-05

光折变BaTiO3晶体缺陷的分析电子显微镜研究

  • 1. (1)中国科学院物理研究所; (2)中国科学院物理研究所,北京电子显微镜实验室

摘要: 用分析电子显微镜研究了顶部籽晶法生长的BaTiO3晶体内的缺陷。成功地制备出薄区厚约100nm内含包裹体的电子显微镜样品。用透射电子显微镜(TEM),配合电子能量损失谱(EELS)确定了BaTiO3单晶内包裹体的相分为:非晶的Ba-Ti-O和高Ti-Ba氧化物——Ba6Ti17O40在BaTiO3单晶试样中,还观察到其它几种类型的微缺陷。

English Abstract

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