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用深能级瞬态谱方法研究赝晶Si/Ge0.25Si0.75/Si单量子阱的价带偏移

李先皇 陆昉 孙恒慧

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用深能级瞬态谱方法研究赝晶Si/Ge0.25Si0.75/Si单量子阱的价带偏移

李先皇, 陆昉, 孙恒慧

VALENCE BAND OFFSET IN PSEUDOMORPHIC Si/Ge0.25Si0.75/Si SINGLE QUANTUM WELL MEASURED BY DEEP LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY

LI XIAN-HUANG, LU FANG, SUN HENG-HUI
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出版历程
  • 收稿日期:  1992-09-15
  • 刊出日期:  2005-07-10

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