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双势阱产生正负电子对过程中的正电子波干涉与克莱因隧穿现象

吴广智 王强 周沧涛 傅立斌

双势阱产生正负电子对过程中的正电子波干涉与克莱因隧穿现象

吴广智, 王强, 周沧涛, 傅立斌
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出版历程
  • 收稿日期:  2016-11-07
  • 修回日期:  2017-01-13
  • 刊出日期:  2017-04-05

双势阱产生正负电子对过程中的正电子波干涉与克莱因隧穿现象

  • 1. 北京应用物理与计算数学研究所, 北京 100088;
  • 2. 中国工程物理研究院研究生院, 北京 100088
  • 通信作者: 吴广智, wuguangzhitc@126.com
    基金项目: 

    国家重点研发计划(批准号:2016YFA0401100)、国家自然科学基金(批准号:11374040)、国家重点基础研究发展计划(批准号:2013CB834100)和NSAF联合基金(批准号:U1630246)资助的课题.

摘要: 通过将狄拉克场量子化并且数值求解狄拉克方程的方法研究在一维情况下双势阱激发正负电子对产生的过程.研究发现双势阱激发的正电子波在双势阱之间会出现干涉现象,过程中伴随着克莱因隧穿效应,并且在双势阱之间的距离取正电子波对应的驻波条件时,在双势阱之间会表现出驻波形式的正电子干涉波.并且驻波的出现对正负电子对的产生过程也存在相应的影响,驻波最终会通过克莱因隧穿效应衰减消失.

English Abstract

参考文献 (23)

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