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金属-绝缘体-金属隧道发光结的电子隧穿和负阻现象

俞建华 孙承休 王茂祥 张佑文 魏同立

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金属-绝缘体-金属隧道发光结的电子隧穿和负阻现象

俞建华, 孙承休, 王茂祥, 张佑文, 魏同立

ELECTRON TUNNELING AND NEGATIVE DIFFERENTIAL RESISTANCE OF MIM LIGHT-EMISSION TUNNEL JUNCTION

YU JIAN-HUA, SUN CHENG-XIU, WANG MAO-XIANG, ZHANG YOU-WEN, WEI TONG-LI
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出版历程
  • 收稿日期:  1997-06-02
  • 修回日期:  1997-06-28
  • 刊出日期:  1998-01-05

金属-绝缘体-金属隧道发光结的电子隧穿和负阻现象

  • 1. (1)东南大学电子工程系,南京 210096; (2)东南大学物理系,南京 210096
    基金项目: 国家自然科学基金资助的课题.

摘要: 薄膜Au-Al2O3-Al隧道结(MIMTJ)在产生可见光发射的同时表现出了明显的负阻现象.这种负阻现象的物理机制是由于结中产生了作为发光中介作用的表面等离极化激元(SPP)对隧穿电子的阻挡作用.通过MIMTJ的电子输运的电路模拟和I-V特性的数值计算,揭示了SPP在I-V特性曲线中的负阻、隧道结发光中所起的关键作用.

English Abstract

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