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用触针下分布电阻的光电导相位法测量半导体中非平衡载流子寿命

洪坚

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用触针下分布电阻的光电导相位法测量半导体中非平衡载流子寿命

洪坚

THE MEASUREMENT OF EXCESS CARRIERS LIFE-TIME IN SEMICONDUCTORS BY PHOTOCONDUCTIVE PHASESHIFT OF SPREADING RESISTANCE UNDER A POINT CONTACT

HUNG GIAN
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出版历程
  • 收稿日期:  1965-09-01
  • 刊出日期:  1966-02-05

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