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在扫描电子显微镜中所观察到钨的奇异花样

廖乾初 王云 王洪君 蓝芬兰

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在扫描电子显微镜中所观察到钨的奇异花样

廖乾初, 王云, 王洪君, 蓝芬兰

ANOMOLOUS PATTERNS OF TUNGSTEN SAMPLES OBSERVED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

LIAO QIAN-CHU, WANG YUN, WANG HONG-JUN, LAN FEN-LAN
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出版历程
  • 收稿日期:  1979-02-08
  • 刊出日期:  2005-07-29

在扫描电子显微镜中所观察到钨的奇异花样

  • 1. 北京钢铁研究院

摘要: 当钨试样倾斜到不同位向以记录一系列电子通道花样时,在方向,方向和方向的准确位置下,观察到一些奇异花样叠加在电子通道花样上。这些奇异花样颇类似于在透射电子显微镜中所观察到的Kossel花样。这种花样具有两个重要性质:(1)花样的强度分布是随着电子能量(电子的加速电压)而改变;(2)花样的几何形貌可以用来描述晶体内部结构的一些特征。最后,从异常散射效应和晶格位与入射电子间相互作用强度a的观点,定性地解释了这种花样的衬度效应来源。

English Abstract

参考文献 (1)

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