[1] |
李鑫, 曾明, 刘辉, 宁中喜, 于达仁. 应用于电推进的碘工质电子回旋共振等离子体源. 物理学报,
2023, 72(22): 225202.
doi: 10.7498/aps.72.20230785
|
[2] |
李月, 李竣, 薛正跃, 王晶晶, 王贵师, 高晓明, 谈图. 本振光功率锁定方法应用于激光外差辐射计的研究. 物理学报,
2023, 72(9): 093201.
doi: 10.7498/aps.72.20230261
|
[3] |
周品嘉, 王轶文, 韦联福. 应用于弱光探测的热敏超导谐振器. 物理学报,
2014, 63(7): 070701.
doi: 10.7498/aps.63.070701
|
[4] |
朱华兵, 吴正斌, 刘国强, 席奎, 李闪闪, 董洋洋. 应用于精密振荡器的石英晶体温度特性研究. 物理学报,
2013, 62(1): 014205.
doi: 10.7498/aps.62.014205
|
[5] |
梁彦霞, 聂敏. 一种应用于量子数据压缩的幺正变换生成方法. 物理学报,
2013, 62(20): 200305.
doi: 10.7498/aps.62.200305
|
[6] |
刘明, 张树林, 李华, 邱阳, 曾佳, 张国峰, 王永良, 孔祥燕, 谢晓明. 一种应用于心磁噪声抑制的选择性平均方法研究. 物理学报,
2013, 62(9): 098501.
doi: 10.7498/aps.62.098501
|
[7] |
罗群, 黄林海, 顾乃庭, 李斐, 饶长辉. 相位差波前检测方法应用于平移误差检测的实验研究. 物理学报,
2012, 61(6): 069501.
doi: 10.7498/aps.61.069501
|
[8] |
华宝成, 钱建强, 王曦, 姚骏恩. 应用于扫描探针显微镜的石英音叉机械模型研究. 物理学报,
2011, 60(4): 040702.
doi: 10.7498/aps.60.040702
|
[9] |
曾广湘, 薛郁. 准滑模控制应用于行人通道的交通瓶颈. 物理学报,
2011, 60(1): 014502.
doi: 10.7498/aps.60.014502
|
[10] |
濮存来, 裴文江. 一种应用于含权无标度网络的全局路由算法. 物理学报,
2010, 59(6): 3841-3845.
doi: 10.7498/aps.59.3841
|
[11] |
胡静, 孙久勋, 陈熙萌, 蔡灵仓. 应用于碱卤化物固体的通用状态方程. 物理学报,
2010, 59(5): 3384-3393.
doi: 10.7498/aps.59.3384
|
[12] |
范树海, 贺洪波, 范正修, 邵建达, 赵元安. 表面热透镜技术应用于薄膜微弱吸收测量的理论和实验. 物理学报,
2005, 54(12): 5774-5777.
doi: 10.7498/aps.54.5774
|
[13] |
徐桂琼, 李志斌. 扩展的混合指数方法及其应用. 物理学报,
2002, 51(7): 1424-1427.
doi: 10.7498/aps.51.1424
|
[14] |
郭巧能, 范希庆, 张德萱, 马丙现. 散射理论方法应用于重构的β-SiC(100)表面. 物理学报,
1996, 45(11): 1875-1883.
doi: 10.7498/aps.45.1875
|
[15] |
李少甫, 刘强, 徐向东, 钱青, 陈学俊. 多重散射展开方法应用于正电子-氢原子的弹性散射角分布的计算. 物理学报,
1993, 42(6): 911-917.
doi: 10.7498/aps.42.911
|
[16] |
李彤, 徐向东, 刘强, 钱青, 陈学俊. 多重散射展开方法应用于电子-氢原子弹性散射角分布的计算. 物理学报,
1993, 42(6): 905-910.
doi: 10.7498/aps.42.905
|
[17] |
顾国庆, 陶瑞宝. 多孔和复合媒质直流电导率的计算方法(Ⅰ)——应用于周期性多孔媒质. 物理学报,
1988, 37(3): 439-446.
doi: 10.7498/aps.37.439
|
[18] |
顾国庆, 陶瑞宝. 多孔和复合媒质直流电导率的计算方法(Ⅱ)——应用于各向同性和各向异性复合材料. 物理学报,
1988, 37(4): 582-588.
doi: 10.7498/aps.37.582
|
[19] |
徐在新. 重整化群变换应用于U(1)规范理论的定量分析. 物理学报,
1986, 35(11): 1403-1410.
doi: 10.7498/aps.35.1403
|
[20] |
何延才, 黄月鸿, 孙荆, 陈裕三. Monte Carlo模拟计算应用于微区薄膜厚度测定. 物理学报,
1982, 31(1): 115-120.
doi: 10.7498/aps.31.115
|