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小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

王俊 柳义 董宝中 李志宏 巩雁军 吴东 孙予罕

小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

王俊, 柳义, 董宝中, 李志宏, 巩雁军, 吴东, 孙予罕
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出版历程
  • 收稿日期:  2000-11-01
  • 修回日期:  2000-12-07
  • 刊出日期:  2001-06-20

小角X射线散射法测定溶胶平均界面厚度

  • 1. (1)中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室,北京100039; (2)中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室,太原030001
    基金项目: 

    国家杰出青年科学基金(批准号:29625307)

    国家自然科学基金(批准号:29973057)

    国家重点基础研究专项基金(批准号:G20000480)资助的课题.

摘要: 溶胶界面层厚度通常是用Porod法对高角区负偏离的Porod曲线进行拟合求算,但本文研究表明还可通过分别测定Porod负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度.应用上述方法测定了在不同制备条件下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度

English Abstract

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