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												doi: 10.7498/aps.72.20230213
											
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										刘成, 李明, 文章, 顾钊源, 杨明超, 刘卫华, 韩传余, 张勇, 耿莉, 郝跃. 复合漏电模型建立及阶梯场板GaN肖特基势垒二极管设计. 物理学报,
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												doi: 10.7498/aps.71.20211917
											
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										邓小庆, 邓联文, 何伊妮, 廖聪维, 黄生祥, 罗衡. InGaZnO薄膜晶体管泄漏电流模型. 物理学报,
												2019, 68(5): 057302.
												
												doi: 10.7498/aps.68.20182088
											
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										佘彦超, 张蔚曦, 王应, 罗开武, 江小蔚. 氧空位缺陷对PbTiO3铁电薄膜漏电流的调控. 物理学报,
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												doi: 10.7498/aps.67.20181130
											
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										吕懿, 张鹤鸣, 胡辉勇, 杨晋勇, 殷树娟, 周春宇. 单轴应变SiNMOSFET源漏电流特性模型. 物理学报,
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												doi: 10.7498/aps.64.197301
											
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										李维勤, 刘丁, 张海波. 高能电子照射绝缘样品的泄漏电流特性. 物理学报,
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												doi: 10.7498/aps.63.227303
											
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										张艳, 王增梅, 陈云飞, 郭新立, 孙伟, 袁国亮, 殷江, 刘治国. 0.5Ba(Ti0.8Zr0.2)O3-0.5(Ba0.7Ca0.3)TiO3压电薄膜的摩擦、磨损性能. 物理学报,
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												doi: 10.7498/aps.62.066802
											
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										任舰, 闫大为, 顾晓峰. AlGaN/GaN 高电子迁移率晶体管漏电流退化机理研究. 物理学报,
												2013, 62(15): 157202.
												
												doi: 10.7498/aps.62.157202
											
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										周春宇, 张鹤鸣, 胡辉勇, 庄奕琪, 吕懿, 王斌, 李妤晨. 应变Si NMOSFET漏电流解析模型. 物理学报,
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										文娟辉, 杨琼, 曹觉先, 周益春. 铁电薄膜漏电流的应变调控. 物理学报,
												2013, 62(6): 067701.
												
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										陈国云, 辛勇, 黄福成, 魏志勇, 雷升杰, 黄三玻, 朱立, 赵经武, 马加一. 用于反应堆中子/ 射线混合场测量的涂硼电离室性能. 物理学报,
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												doi: 10.7498/aps.58.5784
											
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												doi: 10.7498/aps.55.2513
											
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										刘红侠, 郝跃. 应力导致的薄栅氧化层漏电流瞬态特性研究. 物理学报,
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