搜索

x

留言板

尊敬的读者、作者、审稿人, 关于本刊的投稿、审稿、编辑和出版的任何问题, 您可以本页添加留言。我们将尽快给您答复。谢谢您的支持!

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

原级X射线谱强度分布的定量测定

郭常霖 吉昂 陶光仪

原级X射线谱强度分布的定量测定

郭常霖, 吉昂, 陶光仪
PDF
导出引用
计量
  • 文章访问数:  3396
  • PDF下载量:  549
  • 被引次数: 0
出版历程
  • 收稿日期:  1981-03-13
  • 刊出日期:  1981-05-05

原级X射线谱强度分布的定量测定

  • 1. 中国科学院上海硅酸盐研究所

摘要: 本文提出了衍射或荧光分析用的X射线管原级X射线谱强度分布的定量测定方法。在带有正比、闪烁计数管的衍射仪上用LiF分光晶体进行展谱测定。实验测定强度经校正计算还原为X射线管窗口处的强度。对荧光X射线管还应测定几个射线束方向的原级谱加以平均求得有效原级谱。分析了原级X射线谱数据的误差及其对基本参数法等实际应用的影响。

English Abstract

目录

    /

    返回文章
    返回