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二维电子体系在高密度下的稳定性

谢涵坤 周世勋 孙鑫

二维电子体系在高密度下的稳定性

谢涵坤, 周世勋, 孙鑫
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出版历程
  • 收稿日期:  1983-08-12
  • 刊出日期:  2005-03-25

二维电子体系在高密度下的稳定性

  • 1. 复旦大学物理系

摘要: 本文计算了高密度的二维电子体系的边缘能(将二维体系沿某一直线解离成两片时,形成单位长度新边缘所需要的能量)。结果发现,当rss(c)(约0.415)时,边缘能变负,从而表明在高密度下,二维电子气的基态有可能发生不稳。我们分别讨论了二维非束缚的电子气和束缚的电子气基态的稳定性,并在一个简化的模型下给出了束缚的电子气基态稳定性的判据。

English Abstract

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