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Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ系列 超导体的XRD和XPS研究

李 旗 潘海斌 祝传刚 徐彭寿 周映雪 张新夷

Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ系列 超导体的XRD和XPS研究

李 旗, 潘海斌, 祝传刚, 徐彭寿, 周映雪, 张新夷
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出版历程
  • 收稿日期:  2000-04-20
  • 修回日期:  2000-05-18
  • 刊出日期:  2000-10-20

Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ系列 超导体的XRD和XPS研究

  • 1. (1)南京大学物理系,固体微结构物理国家重点实验室,南京 210093;中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥 230029; (2)中国科学技术大学国家同步辐射实验室,合肥 230029

摘要: 实验研究了Bi2Sr2CaCu2-xSnxO8+δ 的X射线衍射(XRD)和光电子能谱(XPS).实验发现随着掺杂(Sn)量的增加,晶格参数a 和c都有所变化,O1s和Cu2p芯能级谱也发生了变化.实验结果表明: 在低掺杂量时,Sn主要 呈二价态;而在高掺杂浓度时呈四价态;掺Sn对超导电性的影响与其他元素的掺杂不同.这 些实验结果支持化学环境在高温超导样品的电子结构中起着重要作用的结论.

English Abstract

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