[1] |
刘哲, 魏浩, 崔海航, 孙锴, 孙博华. 基于声子水动力学方程分析全环绕栅极晶体管的瞬态热输运过程. 物理学报,
2024, 73(14): 144401.
doi: 10.7498/aps.73.20240491
|
[2] |
黎华梅, 侯鹏飞, 王金斌, 宋宏甲, 钟向丽. HfO2基铁电场效应晶体管读写电路的单粒子翻转效应模拟. 物理学报,
2020, 69(9): 098502.
doi: 10.7498/aps.69.20200123
|
[3] |
马群刚, 周刘飞, 喻玥, 马国永, 张盛东. InGaZnO薄膜晶体管背板的栅极驱动电路静电释放失效研究. 物理学报,
2019, 68(10): 108501.
doi: 10.7498/aps.68.20190265
|
[4] |
席晓文, 柴常春, 刘阳, 杨银堂, 樊庆扬. 外界条件在电磁脉冲对GaAs赝高电子迁移率晶体管损伤过程中的影响. 物理学报,
2017, 66(7): 078401.
doi: 10.7498/aps.66.078401
|
[5] |
张立荣, 马雪雪, 王春阜, 李冠明, 夏兴衡, 罗东向, 吴为敬, 徐苗, 王磊, 彭俊彪. 基于金属氧化物薄膜晶体管的高速行集成驱动电路. 物理学报,
2016, 65(2): 028501.
doi: 10.7498/aps.65.028501
|
[6] |
王春华, 徐浩, 万钊, 胡燕. 基于金属氧化物半导体晶体管Colpitts混沌振荡电路及其同步研究. 物理学报,
2013, 62(20): 208401.
doi: 10.7498/aps.62.208401
|
[7] |
马振洋, 柴常春, 任兴荣, 杨银堂, 陈斌. 双极晶体管微波损伤效应与机理. 物理学报,
2012, 61(7): 078501.
doi: 10.7498/aps.61.078501
|
[8] |
冯朝文, 蔡理, 杨晓阔, 康强, 彭卫东, 柏鹏. 单电子晶体管与金属氧化物半导体混合电路构造的一维离散混沌系统研究. 物理学报,
2012, 61(8): 080503.
doi: 10.7498/aps.61.080503
|
[9] |
洪武, 梁琳, 余岳辉. 两步式放电改善反向开关晶体管开通特性研究. 物理学报,
2012, 61(5): 058501.
doi: 10.7498/aps.61.058501
|
[10] |
隋兵才, 方粮, 张超. 单岛单电子晶体管的电导分析. 物理学报,
2011, 60(7): 077302.
doi: 10.7498/aps.60.077302
|
[11] |
王雄, 才玺坤, 原子健, 朱夏明, 邱东江, 吴惠桢. 氧化锌锡薄膜晶体管的研究. 物理学报,
2011, 60(3): 037305.
doi: 10.7498/aps.60.037305
|
[12] |
冯朝文, 蔡理, 康强, 彭卫东, 柏鹏, 王甲富. 基于单电子晶体管 - 金属氧化物场效应晶体管电路的离散混沌系统实现. 物理学报,
2011, 60(11): 110502.
doi: 10.7498/aps.60.110502
|
[13] |
刘玉荣, 陈伟, 廖荣. 低工作电压聚噻吩薄膜晶体管. 物理学报,
2010, 59(11): 8088-8092.
doi: 10.7498/aps.59.8088
|
[14] |
舒 斌, 张鹤鸣, 胡辉勇, 宣荣喜, 戴显英. SiGe电荷注入晶体管的直流特性模型. 物理学报,
2007, 56(2): 1105-1109.
doi: 10.7498/aps.56.1105
|
[15] |
徐云. 单结晶体管二阶RLC串联电路中的周期分岔和混乱运动. 物理学报,
1985, 34(8): 1080-1083.
doi: 10.7498/aps.34.1080
|
[16] |
易明銧. 负阻横向晶体管. 物理学报,
1975, 24(5): 327-330.
doi: 10.7498/aps.24.327
|
[17] |
杨楚良. 功率晶体管的发射极设计. 物理学报,
1966, 22(8): 886-904.
doi: 10.7498/aps.22.886
|
[18] |
成众志, 李锦林. 晶体管杂系参数与自然等效线路. 物理学报,
1959, 15(9): 475-506.
doi: 10.7498/aps.15.475
|
[19] |
成众志. 晶体管变频器分析. 物理学报,
1959, 15(10): 525-534.
doi: 10.7498/aps.15.525
|
[20] |
忻贤杰. 施密特电路的触发过程及它在测量窄脉冲振幅时的准确度. 物理学报,
1957, 13(6): 500-514.
doi: 10.7498/aps.13.500
|