双光纤光栅外腔半导体激光器相干失效研究

黄毅泽; 李毅; 王海方; 俞晓静; 张虎; 张伟; 朱慧群; 孙若曦; 周晟; 张宇明

doi:10.7498/aps.61.014201

摘要

根据双光纤Bragg光栅(FBG)外腔半导体激光器相干失效的物理过程, 运用速率方程和双FBG耦合模理论, 分析了双FBG外腔半导体激光器相干失效产生和控制的条件, 提出了实现和控制双FBG外腔半导体激光器相干失效多模稳定工作的方法. 双FBG外腔半导体激光器在相干失效下具有多模的稳定工作状态, 相干失效长度缩短, 相干失效长度内光谱稳定. 实验测量结果表明, 外腔反射率为3%时, 从非相干失效状态到相干失效状态, 半峰值全宽度从0.5 nm突然展宽到0.9 nm. 在相干失效状态下, 功率稳定, 边模抑制比大于45 dB, 在0℃70℃工作温度范围内峰值波长漂移小于0.5 nm, 最小相干失效长度小于0.5 m. 双FBG外腔半导体激光器相干失效的应用对提高光纤放大器和光纤激光器的性能具有重要意义.

关键词:

Abstract

The preconditions and controlling factors of coherence collapse (CC) are analyzed by the rate equations and dual fiber Bragg grating (FBG) couple mode theory based on the physical process of dual FBG external cavity semiconductor lasers. A method of achieving and controlling CC multi-mode stable state is put forward for dual FBG external cavity semiconductor lasers. When the dual FBG external cavity semiconductor laser operates at the multi-mode stable state under the CC regime, the CC length reduces. The spectrum of the laser is relatively stable within the CC length. The experimental results show the output power of the laser is stable while the laser with the 3% external reflectivity is operating under the CC regime. The side mode suppression ratio is more than 45 dB. The full wave at half maximum broadens from 0.5 nm to 0.9 nm dramatically as soon as the laser operates from the incoherence collapse regime to the CC regime. The wavelength shift is less than 0.5 nm at the operating temperature of 0 ℃70 ℃. The minimum of the CC length is less than 0.5 m. The CC application of dual FBG external cavity semiconductor lasers is vital to improve the performance of optical fiber amplifiers and fiber lasers.

Keywords:

作者及机构信息

1.
上海理工大学光电信息与计算机工程学院, 上海 200093;

2.
上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093;

3.
五邑大学薄膜与纳米材料研究所, 江门 529020

基金项目: 国家高技术研究发展计划(批准号: 2006AA03Z348)、教育部科学技术研究重点项目(批准号: 207033)、上海市教委科学技术研究重点项目(批准号: 10ZZ94)、上海市人才发展基金(批准号: 2009014)、上海市研究生创新基金项目(批准号: JWCXSL1101, JWCXSL1001)和上海市重点学科(批准号: S30502)资助的课题.

Authors and contacts

1.
School of Optical-Electrical and Computer Engineering, University of Shanghai for Science and Technology, Shanghai 200093, China;

2.
Shanghai Key Laboratory of Modern Optical Systems, Shanghai 200093, China;

3.
Institute of Thin Films and Nanomaterials, Wuyi University, Jiangmen 529020, China

Funds: Project supported by the National High Technology Research and Development Program of China (Grant No. 2006AA03Z348), the Key Project of Chinese Ministry of Education (Grant No. 207033), the Key Science and Technology Research Project of Shanghai Committee (Grant No. 10ZZ94), the Shanghai Talents Developing Foundation (Grant No. 2009014), the Innovation Fund Project For Graduate Student of Shanghai (Grant No. JWCXSL1101, JWCXSL1001), and the Shanghai Leading Academic Discipline Project (Grant No. S30502).

参考文献

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施引文献

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