二次渗滤现象对镍基导电硅橡胶屏蔽性能的影响

李  鹏; 刘顺华; 陈光昀

doi:10.7498/aps.54.3332

摘要
通过对镍粉填充RTV硅橡胶的电阻率的测量确定了镍基导电硅橡胶的渗滤值点. 在此基础上添加不同含量的炭黑，发现了有别于单一导电填料填充两相体系的渗滤值规律，即二次渗滤现象. 根据导电机理模型推测了二次渗滤现象产生的原因，并对实验结果进行了拟合. 同时针对高导电硅橡胶的屏蔽性能，发现可用Schelkunoff理论较好地描述其屏蔽效果. 结合二次渗滤现象，分析了其对屏蔽性能的影响.

关键词:
镍粉 /

渗滤阈值 /

二次渗滤现象 /

导电机理
Abstract
By measuring the electrical resistivity of RTV silicone rubber with Ni powder, t he percolation threshold of Ni-based conductive silicone rubber was determined. When N234 was filled in Ni-based conductive silicone rubber,double-percolation p henomenon was found other than percolation law. After fitting of the experimenta l results,the mechanism of the double-percolation phenomenon was presumed. As fo r the shielding effectiveness of high conductive silicone rubber, the result sh ows that it can be described well with the Schelkunoff theory.The influence of double-percolation phenomenon on shielding effectiveness of the rubber was investigated.

Keywords:
nickel powder /

percolation threshold /

double-percolation phenomeno n /

conductive mechanism
作者及机构信息
李鹏,

刘顺华,

陈光昀

1.
大连理工大学材料科学与工程系，大连 116023

基金项目: 国家自然科学基金（批准号：50371012）和辽宁省科学技术基金（批准号：20032125）资助的课题.
Authors and contacts
Li Peng,

Liu Shun-Hua,

Chen Guang-Yun

1.
大连理工大学材料科学与工程系，大连 116023
参考文献

施引文献

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